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顯微光譜測量系統-MicroTEQ-A1
發布時間：2021-08-11
MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統，集成熒光、共焦拉曼測量功能*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實現顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構成。
*注：使用光纖代替共聚焦系統內的小孔（Pinhole）。
應用范圍
· 腫瘤檢測
· 珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區分
· 地質研究
· 公安法學：筆跡鑒定、毒品檢測等
定制顯微鏡
MicroTEQ-A1 系統可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據需求自行挑選。同時，由于應用領域的多樣性，客戶對系統性能的側重點各不相同，該系統對此提供定制服務，滿足客戶的不同需求。
單層石墨烯
乙醇
系統參數
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型號 |
MicroTEQ-A1 |
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光譜儀配置 |
拉曼 |
拉曼 |
熒光 |
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光譜儀 |
QEPRO@532 nm |
QEPRO@785 nm |
QEPRO-FL |
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光譜范圍 |
150-4200 cm-1@532 nm |
150-2000 cm-1@785 nm |
300-1050 nm |
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分辨率 |
~10 cm-1@5 um狹縫 |
~6 cm-1@5 um狹縫 |
1.5 nm@5 um狹縫 |
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探測器 |
背照減薄型面陣CCD |
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激光器 |
單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器 |
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功率 |
50 mW |
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波長 |
532 nm |
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光束發散 |
1.3 mrad |
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顯微光譜測量模塊 |
400-1100 nm |
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模塊輸出能量 |
25 mW |
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手動衰減切換 |
50%, 10%, 1%, 0.1% |
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光斑尺寸 |
10x NA0.25 物鏡下 <=10 um |
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