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Sphere-3000 光學元件反射率測量儀
發布時間：2021-08-11
Sphere-3000光學元件反射率測量儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量，還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
儀器特點：
· CIE顏色測定 X Y色度圖，x，y，L,a,b，飽和度，主波長等；
· 顯微測定微小區域的反射率，物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm）；
· 消除背面反射光，無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率；
技術參數：
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Sphere-3000（II型） |
Sphere-3000（III型） |
Sphere-3000-NIR |
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探測器 |
Hamamatsu背照式2D-CCD |
Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷) |
Hamamatsu InGaAs探測器(制冷) |
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檢測范圍 |
380~1100nm |
380~1100nm |
900~1700nm |
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波長分辨率 |
1nm |
1nm |
3nm |
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信噪比 |
450:1 |
1000:1 |
10000:1 |
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相對檢測誤差 |
＜0.75% |
＜0.5% |
＜0.5% |
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被測物再現性 |
±0.1%以下(380nm~410nm) |
±0.1%以下(380nm~400nm) |
±0.1%以下 |
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測定方法 |
與標準物比較測定 |
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單次測量時間 |
＜1s |
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精度 |
0.3nm |
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被測物N.A |
0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) |
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被測物尺寸 |
直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) |
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被測物測定范圍 |
約φ100um(使用10×對物鏡時) 約φ60um(使用20×對物鏡時) |
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設備重量 |
約22kg（光源外置） |
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設備尺寸 |
300(W)×550(D)×570(H)mm |
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使用環境 |
水平且無振動的場所；溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結露； |
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操作系統 |
Windows7~Windows10 |
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軟件 |
分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定 |
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