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Planum-3000平面光學元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學元件的反射、透射光譜,可進行多角度絕對反射率、相對反射率、透射率測量,偏振光測量,膜性測量,顏色測量等。
儀器特點:
自定義多角度透反射測量
測量對象:
技術參數:
型號 |
Planum-3000 |
探測器 |
Hamamatsu背照式CCD陣列 |
檢測范圍 |
380-1100nm |
波長分辨率 |
1nm |
信噪比(全信號) |
1000:1 |
相對檢測誤差 |
<0.2%(410-900nm) |
操作方式 |
自動 |
角度分辨率 |
<0.0002° |
重復定位精度 |
<0.005° |
旋轉最大速度 |
25°/s |
透射測量角度 |
0-80°(小樣品0-50°) |
反射測量角度 |
5-80° |
單次測量時間量 |
<1s |
S/P光測量 |
支持 |
樣品尺寸 |
>Φ3mm |
操作系統/接口 |
Windows7~Windows10/ USB2.0 |
電源/功率 |
220V-50HZ /100W |
其它 |
可自定義打印報表格式,開放式光學材料數據庫 |