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TMS透過率測量儀能快速準確地測量各類平面、球面、非球面等光學元件的透過率,可用于實時顯示單、多點波長透過率數據及指定波段平均透過率數據。適用于手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面、球面非球面光學元件及組合鏡頭等的檢測。
儀器特點:
· 檢測范圍廣:球面、非球面、塑料制品散透射等測量
· 測試速度極快,1秒出結果,實現產品全檢
· 極小樣品的透過率檢測
測試對象:
· 手機IR孔
· 光學元件
· 太陽眼鏡
· 漫、散射塑料片
技術參數:
型號 |
TMS (I型) |
TMS (Ⅱ型) |
TMS (III型) |
探測器 |
Sony線形CCD陣列 |
Hamamatsu背照式2D-CCD |
Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢測范圍 |
380-1000nm(TMS-UV:200-850nm) |
380-1100nm(TMS-UV:200-1100nm) |
360-1100nm(TMS-UV:225-1000nm) |
信噪比(全信號) |
250 : 1 |
450 : 1 |
1000 : 1 |
相對檢測誤差 |
<0.6%(410-900nm) |
<0.4%(410-1000nm) |
<0.2%(410-1000nm) |
檢出限 |
0.1% |
0.05% |
0.01% |
CCD制冷 |
未制冷 |
未制冷 |
-20℃ |
單次測量時間 |
<1s |
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樣品尺寸 |
≥Φ1.5mm (顯微:≥0.8mm) |
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光斑 |
可調,≥ Φ0.6mm(顯微≥0.3mm) |
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操作系統/接口 |
Windows7~Windows10/ USB2.0 |
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電源/功率 |
220V-50HZ /6W |
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